机器视觉与测控软件 CVI 开发问题求助 (机器视觉与测控)

发表于:2005-12-2511:00:00

随着现代工业技术的发展,对微观表面形貌和尺寸的测量需求日益迫切。机器视觉技术以其非接触、高精度、高速度等特点,在微观表面测量领域得到了广泛的应用。本文主要探讨了机器视觉技术在微观表面测量中的应用,包括分辨率提升至 0.0002μm 的技术突破,以及在 MEMS、电路焊接钣、液压件等细小深孔或轴套内表面测量中的研究和交流。

分辨率提升至 0.0002μm 的技术突破

在三维微观表面测量方面,机器视觉技术的分辨率已经提升至 0.0002μm。这得益于以下技术的进步:

  1. 高分辨率传感器:采用高像素密度、高灵敏度的传感器,可以获取更加精细的图像信息。
  2. 微光学系统:利用微光学系统,可以实现微小光斑的投影和采集,从而提高测量精度。
  3. 图像增强算法:通过图像增强、特征提取等算法,可以从原始图像中提取有用的信息,提高测量结果的可靠性。

MEMS、电路焊接钣、液压件细小深孔或轴套内表面测量

在 MEMS、电路焊接钣、液压件等领域,对细小深孔或轴套内表面进行测量具有很高的挑战性。机器视觉技术通过以下方法能够有效解决这些问题:

  1. 光学三维扫描:采用光学三维扫描技术,可以获取被测表面三维点云数据,并进行几何形状重建。
  2. 共聚焦显微镜:利用共聚焦显微镜,可以实现微小区域的高分辨率成像,获取表面微观结构信息。
  3. 同轴光学系统:采用同轴光学系统,可以降低测量过程中的光学畸变,提高测量精度。

与干涉仪、投影光栅等相关技术的交流

机器视觉技术与干涉仪、投影光栅等相关技术可以相互配合,提高测量精度和速度。例如:

  • 机器视觉辅助干涉仪:机器视觉技术可以辅助干涉仪进行表面形貌测量,提高测量速度和精度。
  • 投影光栅与机器视觉结合:投影光栅与机器视觉结合,可以通过投影条纹的方式测量表面形貌,提高测量效率。

CVI编程技术交流

CVI 编程技术是机器视觉领域中常用的编程语言。本文作者在 CVI 编程技术方面提出了以下问题:

  1. 工程文件能否调用其他工程文件的 .uir?
  2. 工程文件是否只能有一个 .uir?
  3. CVI 如何调用 VB、VC?
  4. 调用 ActiveX 控件时,如何避免控件脱开后消失的问题?
  5. OBJ 文件的作用是什么?

欢迎各位同行交流讨论,并提供相关经验和解决方案。

测控平台开发相关交流

在开发大一点的测控平台时,需要使用 Windows 风格的软件。本文作者希望与同行交流相关例子程序,欢迎提供 .exe 文件以供参考学习。

以上内容仅供参考,如有任何异议或错误,欢迎批评指正。本文作者邮箱:llnwpu@163.com,QQ:563975064,欢迎交流与请教。

本文原创来源:电气TV网,欢迎收藏本网址,收藏不迷路哦!

相关阅读

添加新评论