主要性能指标
| 测量方向 | 测量范围 | 精度 | 重复精度 |
|---|---|---|---|
| X方向 | 0~18mm | ±10μm | 1μm |
| Z方向 | 0~22mm | ±10μm | 1μm |
检测原理
LP-S5050采用激光三角反射原理进行测量。激光束被放大成一条激光线，投射到被测物体表面。反射光通过高质量的光学系统，投射到成像矩阵上。通过计算，可以得到传感器到被测量表面的距离（Z轴）和沿着激光线的位置信息（X轴）。通过移动被测量物体或轮廓仪探头，即可得到一组三维测量值。
检测方法
- 将指纹环待测截面放置于激光线测量区域内。
- 相机连续取像并提取轮廓。
- 设置测量区域，进行截面数据计算处理。
- 数据呈现并输出。
- 移动指纹环测量多个截面，即可得出指纹环的完整高度信息。
测量结果示意图
红色区域内捕捉峰值点，即指纹环最高点。蓝色区域获取水平面的平均高度。两者做差即可得出指纹环的凸起最高位置。
检测效率
LP-S5050的检测效率为每秒20帧。对于每个指纹环，测量时间约为0.5秒。一般情况下，需要测量6~8个有效截面，即可得出指纹环的完整高度信息。
优点
- 精度高，重复精度可达1μm。
- 检测速度快，每个指纹环测量时间仅需0.5秒。
- 操作简单，无需复杂的技术培训。
- 适用于多种类型的指纹环。
应用领域
LP-S5050广泛应用于指纹环制造、质量控制等领域，用于测量指纹环台阶高度、底面高度差以及最高点高度和底面高度差。
相关设备
- 产品1
- 产品2
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